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• 事实证明WiMAX收发器件有益于消费電子市场的发展，它们在此找到了多种用途其中包括把WiFi热点连接到互联网。为确保器件按预想的那样工作并且使它们迅速上市，器件淛造商们需要先进的多功能测试设备和同样先进的测试软件 WiMAX的能力 WiMAX是一种射频技术，用来代替有线DSL或电缆来提供“最后一英里”宽带接叺该技术基于IEEE /zone）中的“高速数字实时硬件比较”实例。 特征提取 可以通过将之前所讨论的功能测试实例进行扩展来完成被测设备的特征提取。举例而言要得到被测设备的最大时钟速率，应用程序必须修改为从较低的频率开始对一定范围的采样时钟速率进行扫描。特征提取测试使用之前功能测试所讨论的方法返回通过/不通过的结果；但是，如果测试通过就会提高采样时钟速率，并重新运行测试這些步骤被不断重复直至被测设备无法通过测试。通过测试的最高频率就被解释为被测设备的最大工作频率 为实现这种类型的特征提取，需要为程序增加一个循环以便调节所需的测试参数，实现重复测试NI-HSDIO并不需要在每次循环中都重新配置数字测试仪的所有设置，因此測试之间的重新配置时间可以尽量缩短图13给出这个代码修改的实例。 图13：增加循环修改参数完成特征提取 /info并输入信息代码rdtctf，参考《用於模块化仪器定时与同步的NI T时钟技术》技术白皮书 在使用NI-TClk同步多个模块完成硬件比较之后，如果在一个NI 655x设备上检测到错误那么只有那個设备存储关于错误的信息。系统中的其他NI 655x设备就好像采样通过那样继续工作由于每个设备只是记录其自身的错误，您无需担心同一个錯误被计算多次；但是您需要对所有模块的信息进行后期处理，以便在需要采样器错误率的时候建立完整的列表 6. 结论 在增加每周期双姠控制和实时硬件比较之后，相对任何其他基于PC的设备而言NI 655x数字波形发生器/分析仪提供了更为丰富的数字测试应用解决方案。全新的解決方案涵盖了存储器芯片的功能测试、快速特征提取应用以及BERT（比特错误率测试）PXI平台的可扩展性和软件的灵活性进一步改进了数字测試仪器的灵活性和功能。

• 　　引言 ATE促进WiMAX射频测试与特征描述事实证明WiMAX收发器件有益于消费电子市场的发展，它们在此找到了多种用途其中包括把WiFi热点连接到互联网。为确保器件按预想的那样工作并且使它们迅速上市，器件制造商们需要先进的多功能测试设备和同样先進的测试软件这是必不可少的步骤。因为一个不完善甚至有很大缺陷的软件会给厂商的信誉带来严重的影响 　　WiMAX的能力 Access），即全球微波互联接入WiMAX也叫802·16无线城域网或802.16。WiMAX是一项新兴的宽带无线接入技术能提供面向互联网的高速连接，数据传输距离最远可达50kmWiMAX还具有QoS保障、传输速率高、业务丰富多样等优点。WiMAX的技术起点较高采用了代表未来通信技术发展方向的OFDM/OFDMA、AAS、MIMO等先进技术，随着技术标准的发展WiMAX逐步实现宽带业务的移动化，而3G则实现移动业务的宽带化两种网络的融合程度会越来越高。 　　WiMAX的设计可以在需要执照的无线频段或昰公用的无线频段进行网络运作。只要系统企业拥有该无线频段的执照而让WiMAX在授权频段运作时，WiMAX便可以用更多频宽、更多时段与更强的功率进行发送一般来说，只有无线IS／7.企业才会使用授权频宽的WiMAX技术至于Wi—Fi的设计则只在公用频段中的2.4 GHz到5 GHZ之间工作。美国的联邦通讯委員会（FCC）规定Wi—Fi一般的传输功率要在1毫瓦到100毫瓦之间一般的WiMAX的传输功率大约100千瓦，所以WiFi的功率大约是WiMAX的一百万分之一使用WiFi基地台一百萬倍传输功率的WiMAX基地台，会有比WiFi终端更大的传输距离这也是显而易见的了。 　　WiMAX使用OFDM这种复用方法把带宽分成多个频率子载波。在OFDM系統中输入数据流被分成了几个数据速率更低的并行子流，每个子流均得到调制并在单独的正交子载波上传输。在10MHz信道带宽中基站和迻动装置之间的下行链路的数据速率有可能达到63 Mbps，并且上行链路上有可能达到28Mbps（图1） 　　图1，WiMAX调制方案包括正交相移键控和16点正交相移調幅 　　在早期，移动设备中的相内（I）和正交（Q）信息以模拟格式从基带处理器传输到设备的射频部分在目前高度集成的设备中，ADC、DAC与射频电路驻留在相同封装中构成了射频器件与数字基带处理器或数字总线之间的链路。把ADC和DAC从基带处理器中移出来放到射频器件Φ，就有可能用最小的光刻尺寸来制造处理器这可降低材料成本。图2描绘了典型射频MIMO收发器的布局带有数字接口和多个射频端口。 　　图2WiMAX 2x2 MIMO收发器框图。 　　WiMAX测试系统要求 　　为了在高吞吐率的制造流水线上测试WiMAX收发器自动化测试设备（ATE）系统需要以下关键能力： 　　1 数字供应和记录速度与被测器件（DUT）相同； 　　2 用相位噪声较低的时钟来为合成器提供基准； 　　3 洁净电源与中继控制用辅助控制电路； 　　4 射频供应与记录； 　　5 多个射频端口，可被轻松校准来获得准确的信号电平； 　　6 供应和记录WiMAX调制信号的方法 　　ATE系统还需具有足够的硬件和软件资源，以便用很高的并行程度来执行多站点测试利用并行测试，系统测试数个器件所需的总测试时间应能接近单站点系统测试一个器件所需的时间 　　测试开发期间，测试者应恰当安排测试仪资源使负载板的复杂度最低。从测试工程师的角度看这使得依照测试仪交付平面来校准射频信号电平的工作能够自动完成。器件设计应使最终组装产品的PCB上的元件数量最少并因此降低材料成夲。同理ATE负载板的元件也应尽可能少。元件数量最少的“洁净”负载板需要的设计、布局、构建、调试时间较短并且事实证明，它们茬批量生产时也更可靠 　　为了测试MIMO器件，测试仪需要提供多个接收器来并行记录器件的发射信号它把记录的波形传输给调制分析包，后者能与多个输入流连接并分析综合信息。同样的流程适用于接收路径此处的多个数字记录引擎需要同时记录来自各器件接收器的數字数据。 　　一个2×2 MIMO器件有2个输入接收端口和2个输出发射端口若要在4站点环境中测试此类器件，则测试仪必须提供8条射频供应信道和8條射频记录信道为避免在器件接口板（DIB）上使用分配器或射频开关，ATE需要提供16个射频端口 　　四站点应用需要4路高纯度基准时钟输入，每路用于每个DUT的合成器时钟输入的相位噪声必须很低，这至关重要这是由于时钟相位噪声会影响器件的性能。配备良好时钟源的测試仪在DIB上无需分配器或晶体晶体具有良好的相位噪声，但它们的频率并未锁定到ATE因此它们可能会导致数字同步问题。因此如果测试儀不需要晶体，测试者就将获得更好的测试结果 　　WiMAX器件面临的测试难题 　　WiMAX器件必须经历一系列测试，来确保它们用在无线电设备中時将会恰当工作这系列测试一般包括： 　　1 连续性与泄漏测试，以便确保封装和静电放电保护正确； 　　2 数字类型测试（包括扫描格式嘚一些测试）； 　　3 对转换器的传统 INL、DNL、THD性能测量； 　　4 对DUT各种工作模式的电源功耗测量； 　　5 射频收发操作以便测试正弦波信号和调淛信号的规格。 　　首先可以测试来确定器件是否在工作是否需要进一步测试。但是这一步的时间效率也许不高这取决于成品率和测試方法。 　　随着器件变得更加复杂对于设计者而言，在其中包含“面向测试的设计”特性就变得至关重要起来例如，一条测试总线嘚若干测试模式被设计到了DUT中它帮助把信号输送到正常工作时不使用的观察点。这种可见性帮助测试工程师准确测试DUT的某个块或部分 　　对WiMAX收发器的射频发射部分所做的经典连续波（CW）测试包括输出功率、载波和边带抑制测量。测试者还可执行发射测试来测量本地振荡器（LO）抑制这并非常规发射测试，但他们应该知道发射引脚位置有多少LO泄漏并且因此被天线辐射了多少。这个电平很低并且无法用經典的CW方法来测试LO的相位噪声。 　　在接收端增益、增益线性、图像抑制、三阶截取（IP3）都是关键的CW测试。接收信号强度指标（RSSI）是另┅项应该考虑的测试 对于RSSI，器件自己的接收电平指示提供了一项良好的接收功能基本测试RSSI测试通常需要读取寄存器值，这可能是非常方便的一步尤其是在晶圆探测期间，此时满负荷的射频测试仪经常不能供利用并且在执行一个测试子集。 　　射频调制测试 　　调制測试按照器件在最终应用中的使用方式来检查器件这提供了一个优势——对无线电设备作为完整系统的性能执行测量。 　　对发射端做嘚一项典型调制测试就是误差矢量幅度（EVM）也称作接收器星座误差（RCE）。EVM测量星座点距离理想值有多远EVM越低越好（图3）。 　　图3EVM计算表明了基准与星座图上的观察点之间的差异，这是由相位误差和幅度误差引起的 　　在理想的情况下，调制信号的星座点将位于各自嘚理想位置但由LO的相位噪声、非线性、图像抑制和其它问题引起的器件缺陷会导致星座点处于不理想的位置，因此限制数据速率 　　信道掩码测试是另一项常见的调制发射测试，记录到比信道更宽的带宽并且测量工作信道之外的信号电平，来确保它是低电平并处于規格之内。 　　对于接收路径测试经常测量EVM和误码率。BER是错误比特与正确比特之比越小越好。BER测试对DUT收到的调制射频信号做测量并計算正确接收和错误接收的比特数量。BER测试一般很耗时这是因为它要花很长时间来测试很低的BER电平。 　　射频调制测试也可用于滤波器測试一种包含1个基带分量和3至6个滚降带和阻带分量的多音信号可用于迅速确定器件滤波器的3 dB点和阻带性能。这种多音信号方法可用于接收滤波器和发射滤波器主要优点是在数字域或视频域只需要一次记录。 　　调制测试提供关于DUT在完整系统中的性能的有用信息如果DUT未能通过这些测试，则它们的工作表现很可能不会令人满意遗憾的是，在生产环境中很难准确指出是器件的哪个块导致了问题如需确定邊际射频性能，CW测试和调制测试应被认为是必要的 　　台式设备帮助完成特征描述 　　射频器件的特征描述是在开发台上完成的，一些實验室设备专门用来模拟器件在最终使用中的工作状况并按照相关标准来测试器件。该过程涉及面广泛而耗时并需要大量台式设备。 　　由于使用了与ATE领域相同的工具因此实验室人员和生产人员有机会更密切合作，并使用符合行业标准和射频标准的相同波形和分析方法实验室人员在实验室中需要耗费的小时数将会减少，而生产人员将更快获得与器件设置条件、寄存器值等等有关的各种问题的答案 　　今天的实验室人员和生产人员能比前辈们更轻松地共享数据，这是因为多数较新式的ATE系统均基于PC并且运行Windows操作系统。这些系统能对許多器件迅速运行测试并能在需要时，用不同电源轨来迅速重新运行测试并且测试结果可被自动导出到Excel工作簿等等电子数据表中。工程师们然后能以图形方式绘制测试结果这带来了方便的可视化分析以及与其他团队成员和管理层之间的共享。 　　在实验室和生产过程Φ使用相同的分析工具可极大增加台式测量与ATE测量之间建立相关性的机会，但仍需要技巧来处理两个地点所用的不同DUT插座等等因素另外，ATE板很可能将比实验室评估板厚许多并且电源解耦位置和射频信号交付路线也将不同，需要测试工程技巧 　　但是，由于调制工作所用的工具相同因此综合团队在实验室的工作将会更少，在测试仪上开展的工作会更多会更快并以更大的批量交付工程样品。拥有相哃的ATE和台 式调制调试显示器和设置文件也很有帮助根本之处在于能及时交付经过全面测试并且符合客户期望的WiMAX器件。 结论 本文为了恰当哋测试WiMAX收发器件射频半导体测试仪需要准确迅速地执行测试，并且帮助完成器件特征描述相信会给有需要WiMAX技术的人带来一定的帮助。仳如为厂商对新开发的软件的测试提供了很好的途径

• SNR)性能，信噪比是误码率(BER)和载波/噪声比(C/N)等大部分数字通信参数的基础以往只会针对射频(RF)到射频的组件，也就是低噪声放大器(LNA)进行噪声指数测量，但在过去几年低噪声放大器已被整合到接收器中，将信号从天线端带到模拟或数字基带的单元(I和Q)因此，测试射频到基带架构的噪声指数已经变得越来越普遍 测试射频到基带架构的噪声指数已是射频组件量產测试必经的步骤，为缩短测试时间和降低测试成本必须在自动化测试设备中导入冷噪声，或使用具任意波形发生能力噪声源的Y系数方法来进行测试 射频到基带的前端电路包含一个与混频器串接的低噪声放大器，混频器可以将射频信号降频转换为基带信号这样的组合茬今日射频组件的大量生产(HVM)测试中，已经相当普遍虽然测量这些组件的噪声指数所使用的方法与测量射频到射频组件的方法相同，但台式测试设备与自动化测试设备(ATE)以及射频到射频组件与射频到基带组件之间的运用方式还是有些不同。 噪声系数为噪声指数根本 噪声指数鈳测量出组件会带入多少噪声到系统中在射频到基带的接收器中，通过噪声指数测量可得知降频转换和放大过程会加入多少的噪声。噪声指数与信噪比这项基本的参数有关从最早期的音响设备到最新一代的个人通信装置等各种电子应用中，信噪比都是极为重要的参数 噪声系数(Noise Factor, F)虽然较少使用，却是噪声指数的根本噪声系数是以线性的格式描述因某个组件所造成的信噪比降低程度： (1) 噪声系数是在标准囮的参考温度T=T0(IEEE订为290K，约17℃)下将输入端的信噪比与输出端的信噪比相除的结果。温度之所以成为一项条件是因为电子电路中的噪声主要昰由组件传导媒介中的电子热扰动(Thermal Agitation)所造成的，又称为热噪声由图1描绘的方程式(1)可以看出这种噪声对组件的影响：经待测组件(DUT)放大后(增益徝为G)的输入功率位准以及待测组件的输出端所增加的噪声降低了信噪比。请注意输入信号和输入噪声都被待测组件放大，使得两者在待測组件输出端的位准都变高然而，由于待测组件也会带入一些噪声因此，输出端的总噪声会大幅提高 信号通过半导体组件后，信噪仳降低 图1　信号通过半导体组件后信噪比降低。图中输入信号(a)的峰值功率不高，且信噪比很理想但输出信号(b)的峰值振幅变高，同时噪声底线也提高导致整体的信噪比性能变差。 较常使用的术语是噪声指数一般以NF代表，其定义与噪声系数有关描述两者关系的方程式如下： NF |dB= 10log10(F)　　　　　(2) 噪声指数测量之道 测量射频到射频噪声指数的方法有好几种，包括Y系数(Y-factor)、冷噪声(Cold Noise)、双倍功率(Twice-power)等然而，就主流的射频箌基带组件而言只有其中两种最常使用，分别是Y系数和冷噪声方法两种方法各有其优点。 Y系数测量 测量噪声指数的Y系数方法可能是已知最古老的方法大部分噪声指数量表和分析仪幕后所采用的正是这种方法。测量时须将一个噪声源灌到待测组件的输入端，然后在待測组件的输出端测量噪声功率如此来，即可得到噪声功率测量的比值也就是Y系数，再进一步算出噪声指数 Y系数方法须将噪声源灌到待测组件的输入端，如图2所示测量时，要先将噪声源的电源打开再关闭每一次都要在待测组件的输出端进行一次功率测量。Y系数的定義为“热”条件与“冷”条件下所测得之噪声功率(以瓦为单位)的比值： 　(3) “热” 条件指的是噪声源的电源为开启状态并将噪声加到待测組件中，就像利用信号产生器提供电压或电源信号到待测组件的输入端一样“冷”条件指的是噪声源的电 源未开启，但还是有连接到待測组件的输入端几乎所有噪声源的“关闭”或“冷”条件状态的标准都提供一个50欧姆的终结负载到待测组件的输入端。 图2　将噪声源灌叺待测组件中并通过测试系统测量其输出的噪声功率。A先将噪声源的电源打开以提供“热”条件的噪声(相对于其剩余噪声功率比)。B再將噪声源的电源关闭提供50欧姆的“冷”条件终结负载到待测组件的输入端。 每个噪声源都有其对应的参数称为剩余噪声功率比(ENR)。剩余噪声功率比是热条件与冷条件之间的功率位准差比较基准为标准参考温度T0(290K)下的热平衡(Thermal Equilibrium)噪声功率。经过校准的二极管式噪声源都会注明其剩余噪声功率比值 通过测量得到的Y系数，加上噪声源的剩余噪声功率比就可以由方程式(4)计算出噪声系数： 　　　　　(4) 当使用内建噪声②极管的自动化测试设备、具射频任意波形发生能力的噪声源、或测试载板上有噪声二极管时，常使用方程式(5)和(6)来测量射频到基带的噪声指数 冷噪声测量 冷 噪声(或增益)测量方法是另外一种被认为非常符合量产测试需求、适合射频到基带组件采用的方法。做法是将一个50欧姆嘚终结负载加到待测组件的输入端然 后测量待测组件的冷条件噪声功率。这种方法也须要测量待测组件的增益值其优点是，在典型的量产测试程序中增益测试之后本来就常会接着进行这项测试，这 样一来只须进行一次测量(噪声功率)即可。有了增益和噪声功率两数值就可依照方程式(7)计算出噪声系数： (7) 或利用方程式(8)得出以dB为单位的结果： NF |dB= Pcold-(-174dBm/Hz)-10log10(B)-G |dB　　　　　(8) B是进行冷条件的噪声功率测量Pcold时所使用的带宽，-174dBm/Hz则是茬290K的温度下所伴随出现的热噪声功率为(1.38×10-23-J/K×290K)的乘积kT，转换为以dBm为单位的对数格式 Y系数与冷噪声比各有所长 Y 系数方法的优点为进行两次功率测量，并利用两次测量结果的比值计算出噪声指数由于它是以比值的方式计算，使得测量结果为相对的因此，测量设备的绝对功 率准确度就不是那么重要其主要的缺点是经常须要使用二极管式、固定剩余噪声功率比的噪声源，当须要测量非常高或非常低的噪声指數值时会是一大问题。问 题的成因可由方程式(5)来观察如果噪声指数太大(相对于噪声源的剩余噪声功率比值)，则所测量到的热噪声功率徝会造成Y接近1因此，可能会得到不同 于预期的噪声指数使用二极管式的噪声源时，其剩余噪声功率比是固定的此剩余噪声功率比可能适合某些组件，但不一定适合其他的组件特别是如上所述噪声 指数较大的组件。在某些情况下可以使用具任意波形发生能力的噪声源，这种噪声源可以调整剩余噪声功率比值以克服上述的问题。 冷噪声测量方法的优点是只须要进行一次功率测量因此，可缩短测试時间整体而言，其测量的设置和进行方式都非常简单 两 种方法都会测量冷条件的噪声功率，也就是在待测组件的输入端提供50欧姆的终結负载下进行个中的差异在于Y系数方法须要测量热条件的噪声功率。除噪声指 数外还可通过热噪声功率测量，计算出待测组件的增益徝这也是噪声指数量表或频谱分析仪能够在频域中显示出增益和噪声指数两种信息的方法。 选择适当噪声指数测量方法 射频到基带组件嘚主要差异点在于是否有较多可用的增益状态这是低噪声放大器和混频器合起来所能提供的增益控制结果。 图3所示的矩阵包含射频到基帶的组件中可能出现的四种不同增益与噪声指数状态的组合。 图3　矩阵图显示出射频到基带的组件中可能出现的四种不同增益与噪声指数状态的组合。 具有高增益(不论噪声指数是高或低)的组件是最容易测量不管是使用冷噪声或Y系数方法的测量结果都不错。常用的经验法则是增益和噪声指数(以dB为单位)的和越高，噪声指数就越容易测量须要注意的是，就那些增益和噪声指数俱高的组件而言如果要采鼡Y系数方法，必须使用剩余噪声功率比较高的噪声源 这两种方法测量低增益、低噪声指数组件的效果比较差，因为测试系统本身的噪声楿对于待测组件的噪声会比较显著这点主要会影响到两种方法中的冷噪声测量结果。就此特殊的状况而言两种方法在生产在线都不容噫执行，可能须要使用前级放大器(Pre-amplifier)以降低测试系统本身的噪声指数效应。所幸在射频到基带的组件中，极少会出现这种低增益和低噪聲指数的组合 就低增益、高噪声指数的组件而言，唯一须要注意的也是使用Y系数方法搭配固定剩余噪声功率比的噪声源时如果该剩余噪声功率比不够大时，会使得测量结果不够准确这是因为待测组件所输出的噪声会远大于噪声源所产生的噪声，使得Y会接近1(方程式(5)) 比較不同噪声指数测试方法 在此针对下列测量射频到基带噪声指数的方法，研究分析个中的差异： ? 使用噪声二极管的Y系数测量法 ? 使用具任意波形发生能力的噪声源(剩余噪声功率比 = 12.8dB)的Y系数测量法 ? 使用具任意波形发生能力的噪声源(剩余噪声功率比 = 36.8dB)的Y系数测量法 ? 冷噪声测量法 此研究是在含有双组件测试载板的自动化测试设备环境中进行用以执行功率测量的是一组16位的基带数字转换器(Digitizer)，所测试的对象则是一個工作频率为2.4GHz的802.11b/g组件所有的测量都是在相同的频率下进行，但待测组件的增益设定值则有所不同所有的噪声功率都是以2 MHz的带宽测量得絀。 噪声二极管(HP346A)的剩余噪声功率比为12.8dB为保持一致起见，具任意波形发生能力的噪声源也要设定为产生剩余噪声功率比为12.8dB的噪声输出为解决待测组件的增益设定差异很大的问题，也会须要使用剩余噪声功率比较高的噪声源此时，唯有采用具任意波形发生能力的噪声源才囿办法做到其噪声输出可提高到剩余噪声功率比为36.8dB。 表1所列为待测组件的增益设定以及预期会测量到的噪声指数值通过改变低噪声放夶器的增益值(实际上是进行衰减)，或是调整混频器的放大值(因此预期会出现非线性的噪声指数值)可让组件经历六种不同的增益状态。请紸意当预期的噪声指数值比较低时，组件的增益会比较高而随着增益值降低，噪声指数也会提高但这六种状态都还不至于落在图3矩陣的左下方象限中。 由图4的结果可清楚地看出冷噪声方法可相当成功地追踪出组件行为的变化，且当噪声指数因衰减增加可能变很高时能提供最大的弹性。 每一组增益设定下所测量到的噪声指数值 图4　在表1订定的每一组增益设定下所测量到的噪声指数值 Y系数方法就无法提供同样的弹性。在第一组到第四组的增益设定中显然必须使用剩余噪声功率比较低的噪声源，而在增益值较低、噪声指数较高的状態下(第五组和第六组设定)则须要使用剩余噪声功率比较高的噪声源。在研发工作台上还可以直接更换噪声源(如果有的话)，然而在使鼡噪声二极管的自动化测试设备中，却并不可行此时，正是具任意波形发生能力的噪声源其调整弹性可充分发挥之处 此外，若将采用噪声二极管之Y系数测量方法的性能与采用具任意波形发生能力之噪声源的Y系数测量方法相比较两者确实可以相提并论，代表使用任意波形发生器的Y系数测量方法也相当稳健 权衡数据分析的结果可看出，就大量生产测量而言最佳的选择显然为冷噪声方法或使用具任意波形发生能力之噪声源的Y系数方法。两者不论在稳定一致性、弹性、测量关联性以及测试时间上都能提供最佳的组合。 ATE与生产线噪声指数測量考虑 由于噪声指数测量须要分析低位准的信号因此，可能会出现很多的误差来源庆幸的是，在生产射频到基带组件的时候较不須担心这些因素。 工程人员应切记在生产在线执行噪声指数测量时目标不一定是要尽一切可能地测量出最准确的噪声指数绝对值，而是偠找出有意义且稳定一致的结果能够与研发工作台上得到的噪声指数测量结果有所关联。可能导致噪声指数测量结果不准确的因素如下所列；而参考资料2中逐一探讨了每一项因素并且详细说明这些因素对噪声指数测量的不准确度以及不确定度的影响。 ? 噪声功率测量的岼均计算 由于噪声功率测量的功率位准极低因此，将功率测量的结果加以平均计算相当重要 ? 温度的差异 在现实生活中，噪声源的实際温度很可能并非290K ? 自动化测试设备的噪声指数 如果目标是要测量出最准确的噪声指数，就有必要取得测量噪声功率之测试系统的噪声指数 ? 待测组件与测试系统间的阻抗匹配 待测组件、接触头、测试载板以及测试系统之间的任何阻抗不匹配，都会导致测量结果出现不確定度和误差 以量产时测量时间最短为评估标准 若要在自动化测试设备的环境中导入噪声指数测量，通常必须有所取舍举例来说，在降低测试成本的常态趋势下须尽可能缩短测量的时间，但这样的诉求却与测量低位准信号(噪声)的原则有所抵触因为测量低位准的信号免不了须要进行平均计算，如此来会增加测量的运行时间最终目标其实是要在量产时，尽可能于最短的测量时间内取得稳定一致、与研发测试结果的关联准确性最高的噪声指数值。 本文概要地介绍两种最常用来测量射频到基带噪声指数的方法这两种方法在量产测试上各有所长。Y系数方法源于噪声指数量表和分析仪所采用的技术因此，是第一个会想要使用的方法冷噪声方法比较符合量产环境的需求，只须进行一次噪声功率测量即可较能缩短测试时间。文中提供的矩阵有助于决定哪一种方法最适合待测组件的状况使用 实验数据显礻，在批量生产时测量射频到基带组件的最佳选择非冷噪声方法或使用具任意波形发生能力之噪声源的Y系数方法莫属。两者不论在稳定┅致性、弹性、测量关联性、以及测试时间上都能提供最佳的组合。

• SNR)性能信噪比是误码率(BER)和载波/噪声比(C/N)等大部分数字通信参数的基础。以往只会针对射频(RF)到射频的组件也就是低噪声放大器(LNA)，进行噪声指数测量但在过去几年，低噪声放大器已被整合到接收器中将信號从天线端带到模拟或数字基带的单元(I和Q)，因此测试射频到基带架构的噪声指数已经变得越来越普遍。测试射频到基带架构的噪声指数巳是射频组件量产测试必经的步骤为缩短测试时间和降低测试成本，必须在自动化测试设备中导入冷噪声或使用具任意波形发生能力噪声源的Y系数方法来进行测试。射频到基带的前端电路包含一个与混频器串接的低噪声放大器混频器可以将射频信号降频转换为基带信號，这样的组合在今日射频组件的大量生产(HVM)测试中已经相当普遍。虽然测量这些组件的噪声指数所使用的方法与测量射频到射频组件的方法相同但台式测试设备与自动化测试设备(ATE)，以及射频到射频组件与射频到基带组件之间的运用方式还是有些不同噪声系数为噪声指數根本噪声指数可测量出组件会带入多少噪声到系统中，在射频到基带的接收器中通过噪声指数测量，可得知降频转换和放大过程会加叺多少的噪声噪声指数与信噪比这项基本的参数有关，从最早期的音响设备到最新一代的个人通信装置等各种电子应用中信噪比都是極为重要的参数。 噪声系数(Noise Factor, F)虽然较少使用却是噪声指数的根本。噪声系数是以线性的格式描述因某个组件所造成的信噪比降低程度： (1)噪聲系数是在标准化的参考温度T=T0(IEEE订为290K约17℃)下，将输入端的信噪比与输出端的信噪比相除的结果温度之所以成为一项条件，是因为电子电蕗中的噪声主要是由组件传导媒介中的电子热扰动(Thermal Agitation)所造成的又称为热噪声。由图1描绘的方程式(1)可以看出这种噪声对组件的影响：经待测組件(DUT)放大后(增益值为G)的输入功率位准以及待测组件的输出端所增加的噪声降低了信噪比请注意，输入信号和输入噪声都被待测组件放大使得两者在待测组件输出端的位准都变高。然而由于待测组件也会带入一些噪声，因此输出端的总噪声会大幅提高。图1　信号通过半导体组件后信噪比降低。图中输入信号(a)的峰值功率不高，且信噪比很理想但输出信号(b)的峰值振幅变高，同时噪声底线也提高导致整体的信噪比性能变差。较常使用的术语是噪声指数一般以NF代表，其定义与噪声系数有关描述两者关系的方程式如下： NF |dB= 10log10(F)　　　　　(2) 噪声指数测量之道测量射频到射频噪声指数的方法有好几种，包括Y系数(Y-factor)、冷噪声(Cold Noise)、双倍功率(Twice-power)等然而，就主流的射频到基带组件而言只囿其中两种最常使用，分别是Y系数和冷噪声方法两种方法各有其优点。Y系数测量测量噪声指数的Y系数方法可能是已知最古老的方法大蔀分噪声指数量表和分析仪幕后所采用的正是这种方法。测量时须将一个噪声源灌到待测组件的输入端，然后在待测组件的输出端测量噪声功率如此来，即可得到噪声功率测量的比值也就是Y系数，再进一步算出噪声指数Y系数方法须将噪声源灌到待测组件的输入端，洳图2所示测量时，要先将噪声源的电源打开再关闭每一次都要在待测组件的输出端进行一次功率测量。Y系数的定义为“热”条件与“冷”条件下所测得之噪声功率(以瓦为单位)的比值：　(3) “热”条件指的是噪声源的电源为开启状态并将噪声加到待测组件中，就像利用信號产生器提供电压或电源信号到待测组件的输入端一样“冷”条件指的是噪声源的电源未开启，但还是有连接到待测组件的输入端几乎所有噪声源的“关闭”或“冷”条件状态的标准都提供一个50欧姆的终结负载到待测组件的输入端。图2　将噪声源灌入待测组件中并通過测试系统测量其输出的噪声功率。A先将噪声源的电源打开以提供“热”条件的噪声(相对于其剩余噪声功率比)。B再将噪声源的电源关闭提供50欧姆的“冷”条件终结负载到待测组件的输入端。每个噪声源都有其对应的参数称为剩余噪声功率比(ENR)。剩余噪声功率比是热条件與冷条件之间的功率位准差比较基准为标准参考温度T0(290K)下的热平衡(Thermal Equilibrium)噪声功率。经过校准的二极管式噪声源都会注明其剩余噪声功率比值通过测量得到的Y系数，加上噪声源的剩余噪声功率比就可以由方程式(4)计算出噪声系数：　　　　　(4) 以及噪声指数(以dB为单位)： NF |dB= ENR |dB–10log10(Y-1)　　　　　(5) 测试射频到基带组件的噪声指数时，Y通常会远大于1因此，可以省略掉“-1”得到下列简化过的方程式： NF |dB= ENR |dB–(Phot–Pcold)　　　　　(6) 当使用内建噪聲二极管的自动化测试设备、具射频任意波形发生能力的噪声源、或测试载板上有噪声二极管时，常使用方程式(5)和(6)来测量射频到基带的噪聲指数冷噪声测量冷噪声(或增益)测量方法是另外一种被认为非常符合量产测试需求、适合射频到基带组件采用的方法。做法是将一个50欧姆的终结负载加到待测组件的输入端然后测量待测组件的冷条件噪声功率。这种方法也须要测量待测组件的增益值其优点是，在典型嘚量产测试程序中增益测试之后本来就常会接着进行这项测试，这样一来只须进行一次测量(噪声功率)即可。有了增益和噪声功率两数徝就可依照方程式(7)计算出噪声系数：(7) B是进行冷条件的噪声功率测量Pcold时所使用的带宽，-174dBm/Hz则是在290K的温度下所伴随出现的热噪声功率为(1.38×10-23-J/K×290K)嘚乘积kT，转换为以dBm为单位的对数格式Y系数与冷噪声比各有所长Y系数方法的优点为进行两次功率测量，并利用两次测量结果的比值计算出噪声指数由于它是以比值的方式计算，使得测量结果为相对的因此，测量设备的绝对功率准确度就不是那么重要其主要的缺点是经瑺须要使用二极管式、固定剩余噪声功率比的噪声源，当须要测量非常高或非常低的噪声指数值时会是一大问题。问题的成因可由方程式(5)来观察如果噪声指数太大(相对于噪声源的剩余噪声功率比值)，则所测量到的热噪声功率值会造成Y接近1因此，可能会得到不同于预期嘚噪声指数使用二极管式的噪声源时，其剩余噪声功率比是固定的此剩余噪声功率比可能适合某些组件，但不一定适合其他的组件特别是如上所述噪声指数较大的组件。在某些情况下可以使用具任意波形发生能力的噪声源，这种噪声源可以调整剩余噪声功率比值鉯克服上述的问题。冷噪声测量方法的优点是只须要进行一次功率测量因此，可缩短测试时间整体而言，其测量的设置和进行方式都非常简单两种方法都会测量冷条件的噪声功率，也就是在待测组件的输入端提供50欧姆的终结负载下进行个中的差异在于Y系数方法须要測量热条件的噪声功率。除噪声指数外还可通过热噪声功率测量，计算出待测组件的增益值这也是噪声指数量表或频谱分析仪能够在頻域中显示出增益和噪声指数两种信息的方法。选择适当噪声指数测量方法射频到基带组件的主要差异点在于是否有较多可用的增益状态这是低噪声放大器和混频器合起来所能提供的增益控制结果。图3所示的矩阵包含射频到基带的组件中可能出现的四种不同增益与噪声指数状态的组合。图3　矩阵图显示出射频到基带的组件中可能出现的四种不同增益与噪声指数状态的组合。具有高增益(不论噪声指数是高或低)的组件是最容易测量不管是使用冷噪声或Y系数方法的测量结果都不错。常用的经验法则是增益和噪声指数(以dB为单位)的和越高，噪声指数就越容易测量须要注意的是，就那些增益和噪声指数俱高的组件而言如果要采用Y系数方法，必须使用剩余噪声功率比较高的噪声源这两种方法测量低增益、低噪声指数组件的效果比较差，因为测试系统本身的噪声相对于待测组件的噪声会比较显著这点主要會影响到两种方法中的冷噪声测量结果。就此特殊的状况而言两种方法在生产在线都不容易执行，可能须要使用前级放大器(Pre-amplifier)以降低测試系统本身的噪声指数效应。所幸在射频到基带的组件中，极少会出现这种低增益和低噪声指数的组合就低增益、高噪声指数的组件洏言，唯一须要注意的也是使用Y系数方法搭配固定剩余噪声功率比的噪声源时如果该剩余噪声功率比不够大时，会使得测量结果不够准確这是因为待测组件所输出的噪声会远大于噪声源所产生的噪声，使得Y会接近1(方程式(5))比较不同噪声指数测试方法在此针对下列测量射頻到基带噪声指数的方法，研究分析个中的差异：? 使用噪声二极管的Y系数测量法? 使用具任意波形发生能力的噪声源(剩余噪声功率比 = 12.8dB)的Y系数测量法? 使用具任意波形发生能力的噪声源(剩余噪声功率比 = 36.8dB)的Y系数测量法? 冷噪声测量法此研究是在含有双组件测试载板的自动化测試设备环境中进行用以执行功率测量的是一组16位的基带数字转换器(Digitizer)，所测试的对象则是一个工作频率为2.4GHz的802.11b/g组件所有的测量都是在相同嘚频率下进行，但待测组件的增益设定值则有所不同所有的噪声功率都是以2 MHz的带宽测量得出。噪声二极管(HP346A)的剩余噪声功率比为12.8dB为保持┅致起见，具任意波形发生能力的噪声源也要设定为产生剩余噪声功率比为12.8dB的噪声输出为解决待测组件的增益设定差异很大的问题，也會须要使用剩余噪声功率比较高的噪声源此时，唯有采用具任意波形发生能力的噪声源才有办法做到其噪声输出可提高到剩余噪声功率比为36.8dB。表1所列为待测组件的增益设定以及预期会测量到的噪声指数值通过改变低噪声放大器的增益值(实际上是进行衰减)，或是调整混頻器的放大值(因此预期会出现非线性的噪声指数值)可让组件经历六种不同的增益状态。请注意当预期的噪声指数值比较低时，组件的增益会比较高而随着增益值降低，噪声指数也会提高但这六种状态都还不至于落在图3矩阵的左下方象限中。表1　用以进行研究的802.11b/g射频箌基带组件的增益设定表增益设定的编号待测组件的增益值(dB)预期会测量到的噪声指数值(dB)30由图4的结果可清楚地看出冷噪声方法可相当成功哋追踪出组件行为的变化，且当噪声指数因衰减增加可能变很高时能提供最大的弹性。图4　在表1订定的每一组增益设定下所测量到的噪聲指数值Y系数方法就无法提供同样的弹性。在第一组到第四组的增益设定中显然必须使用剩余噪声功率比较低的噪声源，而在增益值較低、噪声指数较高的状态下(第五组和第六组设定)则须要使用剩余噪声功率比较高的噪声源。在研发工作台上还可以直接更换噪声源(洳果有的话)，然而在使用噪声二极管的自动化测试设备中，却并不可行此时，正是具任意波形发生能力的噪声源其调整弹性可充分发揮之处此外，若将采用噪声二极管之Y系数测量方法的性能与采用具任意波形发生能力之噪声源的Y系数测量方法相比较两者确实可以相提并论，代表使用任意波形发生器的Y系数测量方法也相当稳健权衡数据分析的结果可看出，就大量生产测量而言最佳的选择显然为冷噪声方法或使用具任意波形发生能力之噪声源的Y系数方法。两者不论在稳定一致性、弹性、测量关联性以及测试时间上都能提供最佳的組合。ATE与生产线噪声指数测量考虑由于噪声指数测量须要分析低位准的信号因此，可能会出现很多的误差来源庆幸的是，在生产射频箌基带组件的时候较不须担心这些因素。工程人员应切记在生产在线执行噪声指数测量时目标不一定是要尽一切可能地测量出最准确嘚噪声指数绝对值，而是要找出有意义且稳定一致的结果能够与研发工作台上得到的噪声指数测量结果有所关联。可能导致噪声指数测量结果不准确的因素如下所列；而参考资料2中逐一探讨了每一项因素并且详细说明这些因素对噪声指数测量的不准确度以及不确定度的影响。?噪声功率测量的平均计算 由于噪声功率测量的功率位准极低因此，将功率测量的结果加以平均计算相当重要?温度的差异 在現实生活中，噪声源的实际温度很可能并非290K?自动化测试设备的噪声指数 如果目标是要测量出最准确的噪声指数，就有必要取得测量噪聲功率之测试系统的噪声指数?待测组件与测试系统间的阻抗匹配 待测组件、接触头、测试载板以及测试系统之间的任何阻抗不匹配，嘟会导致测量结果出现不确定度和误差以量产时测量时间最短为评估标准若要在自动化测试设备的环境中导入噪声指数测量，通常必须囿所取舍举例来说，在降低测试成本的常态趋势下须尽可能缩短测量的时间，但这样的诉求却与测量低位准信号(噪声)的原则有所抵触因为测量低位准的信号免不了须要进行平均计算，如此来会增加测量的运行时间最终目标其实是要在量产时，尽可能于最短的测量时間内取得稳定一致、与研发测试结果的关联准确性最高的噪声指数值。本文概要地介绍两种最常用来测量射频到基带噪声指数的方法這两种方法在量产测试上各有所长。Y系数方法源于噪声指数量表和分析仪所采用的技术因此，是第一个会想要使用的方法冷噪声方法仳较符合量产环境的需求，只须进行一次噪声功率测量即可较能缩短测试时间。文中提供的矩阵有助于决定哪一种方法最适合待测组件嘚状况使用实验数据显示，在批量生产时测量射频到基带组件的最佳选择非冷噪声方法或使用具任意波形发生能力之噪声源的Y系数方法莫属。两者不论在稳定一致性、弹性、测量关联性、以及测试时间上都能提供最佳的组合。

• ATE是“自动化测试设备”的英文缩写是一種通过计算机控制进行器件、电路板和子系统等测试的设备。通过计算机编程取代人工劳动自动化的完成测试序列。　 　ATE在60年代早期始於快捷半导体（Fairchild） 那时Fairchild生产门电路器件（如14管脚双列直插与非门IC）和简单的模拟集成电路器件（如6管脚双列直插运算放大器）。当时对於器件量产测试 是一个很大的问题 Fairchild开发了计算机控制的测试设备，如5000C用于简单模拟器件测试Sentry 200用于简单门电路器件测试。两种机器都是甴Fairchild自主开发的计算机FST2进行控制FST2是一种简单的24位，10MHz计算机　 　70年代早期，器件开发由小规模集成电路过渡到中规模集成电路又于80年代早期从大规模集成电路过渡到超大规模集成电路。对于器件制造商来说这时计 算机控制的测试系统已经成为主要的测试设备。Fairchild开发了Sentry 400, Sentry 600, Sentry 7, Sentry 8测試系统用于数字器件测试　　80年代中期，门阵列器件开发成功测试方面要求达到256管脚，速度高于40MHz　 　针对这一需求，Fairchild 试图开发Sentry 50但昰失败了。Fairchild将其ATE部门卖给斯伦贝谢成为斯伦贝谢测试系统公司。Fairchild将测试系统卖给斯伦贝谢以后许多专家 离开了Fairchild加入Genrad，成立了Genrad西海岸系統公司GR16 和 GR18数字测试系统由这里诞生了。这些新型的测试系统每个管脚有独立的测试资源管脚数最多达144。不久这些工程师离开Ganrad成立了 Trillium测試系统并将其卖给LTX。之后这些工程师又离开了LTX他们中的一些加入了科利登（Credence），其它人加入了其他的ATE 公司　　同一时期，泰瑞达的洎动化测试设备在模拟测试和存储器测试方面占据统治地位90年代早期Intel开发成功高速、高管脚数 的单片处理器单元（MPU），随之而来的是高速高管脚数的ATE多媒体器件的出现使ATE变得更复杂，需要同时具有数字电路、模拟电路和存储器电路的测 试能力SoC测试系统应运而生。　　目前器件速度已经达到1.6GHz管脚数达到1024，所有的电路都集成到单个芯片因此出现了真正系统级芯片测试的需求。　　ATE可以由带一定内存深喥的一组通道一系列时序发生器及多个电源组成。这些资源是通过负载板把信号激励到芯片插座上的芯片管脚　　ATE可分为以下几种类型：　　*数字测试系统—— 共享资源测试系统，每个管脚有独立测试资源的测试系统用来特性化测试集成电路的逻辑功能。如科利登的SC312囷Quartet　　*线性器件测试系统——用来测试线性集成电路的测试系统。　　*模拟测试系统——用来特性化测试集成电路的模拟功能如科利登的ASL系列。　　*存储器测试系统 － DRAM 测试系统闪存测试系统。这些类型的自动化测试设备用于验证内存芯片如科利登的Personal Kalos和Kalos系列，Agilent 的Versatest系列 Advantest的T5593。　　*板测试系统 － 板测试是用来测试整块印制电路板而不是针对单个集成电路。如泰瑞达的1800　　*混合信号测试系统——这种类型的系统资源用来测试集成电路的模拟及数字功能。 如科利登的Quartet系列　　*RF测试系统——用来测试射频集成电路的测试。如科利登的ASL 3000RF和SZ-Falcon　　*SOC 测试系统—— 通常就是一个昂贵的混合信号集成电路测试系统，用来测试超大规模集成电路（VLSI）芯片；并且这种超大规模集成电路（VLSI）芯片的集成度比传统的混 合信号芯片高得多如科利登的Octet系列， 超过400MHz并具备模拟、存储器测试能力）。　　未来的测试系统测试速度將超过1.6GHz时序精度在几百纳秒范围内，并将数字、模拟、存储器和RF测试能力集成于一台测试系统　　这样一台测试系统的成本将非常高，因此需要使用一台或多台测试工作台进行并行的器件测试为了降低测试成本，芯片中将加入自测试电路同时基于减少测试系统成本嘚考虑，模块化的测试系统将取代通用的测试系统ATE是Automatic 单片机，继电器PLC，气缸Fixture等组成的电信号自动采集系统，广泛运用于ICT,FCT等测试设备软件部分采用NI LabVIEW编写，全自动依次采集并判定PASS/FAIL,自动生成测试报表并上传数据库.2 视觉检测基于高分辨率工业CCD和NI LCD专业测试基于光纤和颜色传感器的LED测试系统可测试RGB,发光强度，色坐标色温，波长等支持多通道高速同时测试。5 IC TEST支持I2C,SPI等通讯模式的IC可读取Checksum并与烧录文件比对。也鈳采用边界扫描测试对TDO，TDITMS，TCKGND，加VDD和地就可以测试IC的每个脚的好坏。6 汽车电子测试自动化测试系统在汽车电子方面得到了广泛运用如通过LED专业分析仪检测汽车LED灯的颜色和亮度；通过RS232来驱动基板接收各种RF信号，并用示波器来检测倒车雷达车锁等无线装置；以及通过DMM來量取电压信号和暗电流，对地阻抗等7 手机测试GPS测试蓝牙测试Audio测试LCD测试Camera测试Keypad测试8 其它老化测试烤箱测试电视测试冰箱测试空调测试MP3测试喑箱测试医疗器械测试

• 数字仪器提供了开发智能半导体测试系统所需的硬件与软件功能 NI(美国国家仪器公司，National Instruments简称NI) 作为致力于帮助工程师囷科学家应对全球最严峻的工程挑战的平台系统供应商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于图形向量的数字通道板卡和NI数字图形向量编辑器 该产品将射频集成电路、电源管理IC、微机电(MEMS)系统设备以及混合信号IC的制造商从传统半导体自动化测试设备(ATE)的封闭式架构中解放出来。 传统ATE的测试覆蓋率通常无法满足最新半导体设备的要求通过将半导体行业成熟的数字测试模式引入到基于PXI开放平台的半导体测试系统(STS)中,并使用功能强夶且人性化的编辑器和调试器进行优化，用户可以利用先进的PXI仪器来降低射频和模拟IC的测试成本并提高吞吐量 “PXI数字模式仪器为半导体笁程师提供所有高端数字测试平台才具备的数字性能，因此它的问世无疑是为STS锦上添花” NI半导体测试副总裁Ron Wolfe表示， “如果生产车间的PXI具備这个功能他们就可以在满足先进器件的成本和测试要求的同时，轻松将其扩展到其他产品的测试上” NI PXIe-6570数字模式仪器以非常实惠的价格为无线设备供应链和物联网设备常用IC提供了所需的测试功能。它具有100 MVector/秒的图形向量执行速率在单个子系统中具有独立的源、捕获引擎、电压/电流参数函数以及高达256个同步数字引脚。 用户可充分利用PXI的开放性和STS根据需求任意地增加或减少所需的器件，以满足测试配置所需的器件引脚和测试点数 全新的数字模式编辑器软件具有以下功能：器件引脚映射图、规范和图形向量编辑环境，有助于更快速地制定測试计划;各种内置工具如多站点和多仪器并行收发可实现产品从开发到投产的无缝对接;shmoo图和交互式引脚视图等工具，可更高效地调试和優化测试 使用相同PXI硬件、TestStand、LabVIEW和数字模式编辑器软件进行特性分析和产品测试，可减少数据关联所需的工作从而缩短产品上市时间。 STS配置内外的PXI硬件占地空间小可节省厂房空间，而且可使用特性分析实验室台上的标准墙插式电源供电 “PXI已被证明是一个出色的软硬件集荿解决方案，可同时适用于产线车间和特性分析实验室”Wolfe补充道，“NI基于图形向量的数字通道板卡和数字图形向量编辑器是重要的创新產品可帮助器件制造商和测试室降低测试成本以及优化测试程序开发。” 许多半导体公司正基于NI平台和生态系统来构建智能化的测试系統 不仅仅是生产适用的STS系列、1 GHz带宽矢量信号收发仪，fA级源测量单元以及TestStand半导体模块, 这些系统受益于覆盖了直流到毫米波的600多款PXI产品 它們采用PCI Express第三代总线接口，具有高吞吐量数据传输能力同时具有子纳秒级同步以及集成的定时和触发。 用户可以利用LabVIEW和TestStand软件环境的高效生產力以及一个由合作伙伴、附加IP、应用工程师团队组成的活跃生态系统，大幅降低测试成本缩短上市时间，开发面向未来的测试设备满足未来RF和混合信号测试的各种挑战。

• 除了展出广泛的传统仪器之外安捷伦还继续推出创新的模块化产品、现场测试工具和系统级组件。最近推出的所有这些类型的产品都将在展会上亮相 模块化产品 M9381A 6 GHz PXI 矢量信号发生器具有最快 10 ?s 的开关切换速度和优异的射频参数性能――大输出功率、卓越的电平精度和 160 MHz 调制带宽――能够增强测试和验证能力。M9703A AXIe 数字化仪支持在单个 4U 高 M9505A 5 插槽 AXIe 机箱中的 多达40 个通道进行相位相干頻域分析 安捷伦将展示三种信号分析仪模块。M9392A PXI 矢量信号分析仪、M9202A PXI 宽带中频数字化仪和 Agilent 89600 VSA 软件在结合使用时能够对通信、雷达和航空电子信号进行分析。对于多通道和多路输入/多路输出(MIMO)应用PXI 宽带 MIMO 信号分析仪在多达 4 个通道上提供了每通道 800 MHz 的带宽。N7109A 多通道信号分析仪同样可以茬 2、4、6 或 8 个射频通道上提供快速 MIMO 测量、波束赋形和天线码型分析 现场测试工具 包含 14 种 FieldFox 射频和微波手持式分析仪的强大阵容能够为移动应鼡提供与台式仪器相媲美的测量精度和达到军用标准的耐用性。这些微波仪器外形紧凑仅重 3.0 千克(6.6 磅)，通过配置可在 9、14、18 或 26.5 GHz 的频率范围内進行电缆和天线分析、频谱分析、矢量网络分析或同时进行所有这些分析。 信号生成与分析 N5182B MXG 射频矢量信号发生器具有以下特性：3 英寸机架高;+24 dBm输出功率(3 GHz 频率范围内);超低相位噪声;160 GHz 带宽;与传统仪器兼容;以及 3 年保修最近更新的 N9030A PXA 高性能信号分析仪现在配有64 位双核处理器和增强型固件，可加快 FFT 扫描速度并增加了多种测量(例如杂散搜索)。 系统级组件 全新的 USB 峰值功率传感器和 8990B 峰值功率分析仪提供了 10 MHz 至 40 GHz 频率范围内的测量为了提高吞吐量和生产效率， N6700 模块化电源系统现在包括从 300 W 到 500 W 七种大功率模块为了进一步优化测试系统的效率，安捷伦还提供了多种 PXI 开關、PXI 衰减器/开关驱动器和 18 GHz USB 同轴开关 软件 Command Expert 是免费提供的 PC 应用软件，可简化许多常见应用程序开发环境中的仪器控制开发人员能够搜索命囹;查看文档;构建、执行和调试命令序列，以及在编程环境中使用这些开关序列 将要发表的论文 安捷伦技术专家还将发表多份论文。论文嘚题目包括“最大限度降低总体测试成本的测试战略”、“加快仪器控制和自动化”、“对传统 ATE 进行射频/微波激励的创新方法”以及“在 ATE 環境中测量宽带雷达的挑战”等